作者	顾瑛
出版社
出版时间	2004-08-01

特色：

本书是“电子元器件质量与可靠性技术”丛书之一。该书分为四章：第1章是排列组合和概率论基础；第2章可靠性特征量是可靠性的基础知识，阐述可靠度、失效分布函数、失效密度和寿命特征量的含义；第3章介绍寿命数据的数值估计法和图估法的统计分析方法；第4章论述抽样检验和假设检验，给出计数、失效率、平均寿命等抽样检验的检验规则和抽样方案的制定。 本书为电子元器件质量与可靠性技术培训教材，对从事质量与可靠性工作的技术人员和管理人员是一本实用的参考资料。同时也可作为大学相关专业的参考书。