作者	梁志德
出版社
出版时间	2003-03-01

特色：

内容包括材料的物理测试技术中广泛应用的X 射线衍射分析、透射电镜分析以及应用日广的扫描电镜及其EBSP 分析、中子衍射击分析和正受关注的某些表面分析技术。