作者：
出版社： 中国科学技术大学出版社
CIP号：2016308945
书号：978-7-312-03749-8
出版地：合肥
出版时间：2017.1
定价：￥60
本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜（TEM）和X-射线衍射（XRD）。与第三版相比，这一版所有章节都进行了更新和修订，并增加了与TEM有关的重要的新技术，如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理，以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别，并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。