扫描遂道显微学引论

作者陈成钧
出版社
出版时间1996-12-01

特色:

本书是国际上**本有关扫描隧道显微学的专著,包括扫描隧道显微学的历史及概貌、成像原理、仪器及部件以及扫描隧道电子谱、原子力显微镜和若干应用实例。内容翔实丰富、深入浅出,有独到之处。可作为高等学校有关专业的教材以及表面科学、薄膜物理、介观物理、电化学、微电子学、分子生物学等领域研究人员的参考用书。

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