作者：黄松岭, 赵伟著
出版社： 清华大学出版社
CIP号：2016084781
书号：978-7-302-43659-1
出版地：北京
出版时间：2016
定价：￥45
本书介绍漏磁检测基本原理、缺陷识别与量化理论及其实现技术，主要包括漏磁检测影响因素、检测信号处理方法、缺陷当量尺寸量化方法、缺陷轮廓反演、三维漏磁成像等几个方面内容。