作者	(美)阿尔福雷德
出版社
出版时间	2004-01-01

特色：
来自业内权威人士的**本关于可测试性设计（Design-For-Test,DFT）的实用指南。跳过高深的理论和数学公式，直击现实世界中的数字设计和测试工作。了解使用策略，满足对品质、可靠性及成本控制的业务需求，使你能在典型的高压力环境下按期完成任务。本书将帮助你优化设计，在工程上权衡某些资源（如硅片面积、工作频率和功率消耗）间的关系；在整体上实现的测试成本、面市时间和量产时间的平衡。此外，还将通过特定的自动化测试仿真生成（automatic test pattern generation,ATPG）工具提升你的效率。

书中包括的索引使你能够根据自己的需要，直接阅读你所关注的内容。主要内容包括：设计核心，关注嵌入核心和嵌入存储器；系统集成和超大规模集成电路的设计问题；AC扫描、正常速度扫描和嵌入式可测试性设计；内建、自测试、含内存BIST、逻辑BIST及扫描BIST；虚拟测试套接字和隔离测试·重用设计，包括重用和隔离测试；用VSIA和IEEE P1500标准处理测试问题。 书中穿插的整幅图解直接来自作者的教学材料。通过为书中的**部分列出流程图、工程图表和内容接要，使得读者能够更快更容易地学习和查找。本书是与设计和测试工作相关的工程师和管理员所备的资料书籍。