作者：
出版社： 西安电子科技大学出版社
CIP号：2017201101
书号：978-7-5606-4571-1
出版地：西安
出版时间：2017.8
定价：￥72
本书系统介绍光电成像系统全寿命周期研制主要环节：建模、仿真、测试与评估的基本理论与技术，设计全链路光电成像物理效应模型、三维光学场景高真实感仿真、全链路光电成像仿真及应用、系统性能评估理论与遥感成像质量评价方法、复杂背景图像杂波量化理论与方法、系统静态性能指标体系及测试方法、半实物仿真测试等核心内容。