晶体生长中输运现象及晶体缺陷

《晶体生长中输运现象及晶体缺陷》

作者:

出版社: 科学出版社

CIP号:2019085772

书号:978-7-03-061162-8

出版地:北京

出版时间:2019.5

定价:¥168.0


简介

本书主要介绍了晶体生长技术及相关晶体缺陷,结合计算流体力学数值模拟和实验研究,系统的从热流体输运、化学反应等方面阐明了晶体生长技术的要点和优化方法。为了读者更系统的了解晶体缺陷的理论和研究方法,本书也详细介绍了分子动力学和第一性原理的研究策略,并应用于晶体缺陷的研究。本书的研究涵盖了宏观和微观的研究方法和理论,把传统的工程热物理理论知识应用到国际前沿领域的研究中,促进了传统学科的发展。

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