作者：王姝主编
出版社： 哈尔滨工业大学出版社
CIP号：2018282479
书号：978-7-5603-7791-9
出版地：哈尔滨
出版时间：2018.12
定价：￥38.0
本书共11章，第1~4章讨论了材料结构、形貌、成分的表征分析方法，详细分析了各测试技术的原理、技术特点、制样方法以及分析方法；第5~7章介绍了紫外-可见吸收光谱、拉曼光谱、以及傅里叶变换红外光谱；第8~9章讨论了电阻率测试方法以及霍尔效应，研究四探针测试技术中的共性问题，分析表面光电压技术的原理以及测试方法；第10~11章讨论了瞬态及稳态光谱在半导体材料测试分析中的应用。