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互换性与测量技术基础
作者
廖念钊
出版社
出版时间
2002-03-01
特色:
本书包括:尺寸公差与圆柱结合的互换性、测量技术基础、形位公差及检测、表面粗糙度、量规与光滑工件尺寸的检测等内容。
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