作者：
出版社： 中山大学出版社
CIP号：2019190969
书号：978-7-306-06689-3
出版地：广州
出版时间：2019.8
定价：￥180.0
本书介绍表面分析主要技术，包括俄歇电子能谱、X射线光电子能谱、二次离子质谱、低能粒子散射和卢瑟福背散射技术、表面分子振动光谱技术以及扩展X射线吸收精细结构和扫描隧道显微技术、原子力显微技术等。本书主要阐述上述表面分析技术的基本原理和实用样品实例分析，每章结尾处还附有相关的分析练习题供读者训练，判断自己对书中知识内容掌握的程度。